Pure and Applied Chemistry

Pure Appl. Chem., 2009, Vol. 81, No. 1, pp. 45-60

http://dx.doi.org/10.1351/PAC-CON-08-09-02

Nanometer-scale dynamics of charges generated by radiations in condensed matter*

References

• 1a. W. A. Goddard III, D. W. Brenner, S. E. Lyshevski, G. J. Iafrate (Eds.). Handbook of Nanoscience, Engineering, and Technology, CRC Press, Boca Raton (2003).
• 1b. B. Bhushan (Ed.). Springer Handbook of Nanotechnology, Springer Verlag, Berlin (2004).
• 2a. E. Ruska. Nobel Lectures in Physics (1986).
• 2b. M. Knoll, J. Kugler. Nature 184, 1823 (1959). (http://dx.doi.org/10.1038/1841823a0)
• 3a. M. Merano, S. Sonderegger, A. Crottini, S. Collin, P. Renucci, E. Pelucchi, A. Malko, M. H. Baier, E. Kapon, B. Deveaud, J.-D. Ganieŕe. Nature 438, 479 (2005). (http://dx.doi.org/10.1038/nature04298)
• 3b. W. E. King, G. H. Campbell, A. Frank, B. Reed, J. F. Schmerge, B. J. Siwick, B. C. Stuart, P. M. Weber. J. Appl. Phys. 97, 111101 (2005). (http://dx.doi.org/10.1063/1.1927699)
• 4a. M. J. Bronskill, W. B. Taylor, R. K. Wolff, J. W. Hunt. Rev. Sci. Instrum. 41, 333 (1970). (http://dx.doi.org/10.1063/1.1684511)
• 4b. C. D. Jonah, M. S. Matheson, J. R. Miller, E. J. Hart. J. Phys. Chem. 80, 1267 (1976). (http://dx.doi.org/10.1021/j100553a001)
• 5a. J. F. Wishart, A. R. Cook, J. R. Miller. Rev. Sci. Instrum. 75, 4359 (2004). (http://dx.doi.org/10.1063/1.1807004)
• 5b. Y. Muroya, M. Lin, T. Watanabe, G. Wu, T. Kobayashi, K. Yoshii, T. Ueda, M. Uesaka, Y. Katsumura. Nucl. Instrum. Methods A 489, 554 (2002). (http://dx.doi.org/10.1016/S0168-9002(02)00796-9)
• 5c. Y. Aoki, J. Yang, M. Hirose, F. Sakai, A. Tsunemi, M. Yorozu, Y. Okada, A. Endo, X. Wang, I. Ben-Zvi. Nucl. Instrum. Methods A 455, 99 (2000). (http://dx.doi.org/10.1016/S0168-9002(00)00713-0)
• 5d. M. Kawaguchi, K. Ushida, S. Kashiwagi, R. Kuroda, T. Kuribayashi, M. Kobayashi, Y. Hama, M. Washio. Nucl. Instrum. Methods B 236, 425 (2005). (http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2005.04.012)
• 5e. J. Belloni, H. Monard, F. Gobert, J.‑P. Larbre, A. Demarque, V. De Waele, I. Lampre, J.-L. Marignier, M. Mostafavi, J. C. Bourdon, M. Bernard, H. Borie, T. Garvey, B. Jacquemard, B. Leblond, P. Lepercq, M. Omeich, M. Roch, J. Rodier, R. Roux. Nucl. Instrum. Methods A 539, 527 (2005). (http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2004.11.006)
• 5f. J. Yang, T. Kondoh, A. Yoshida, Y. Yoshida. Rev. Sci. Instrum. 77, 043302 (2006). (http://dx.doi.org/10.1063/1.2195090)
• 5g. D. A. Oulianov, R. A. Crowell, D. J. Gosztola, I. A. Shkrob, O. J. Korovyanko, R. C. Rey-de-Castro. J. Appl. Phys. 101, 053102 (2007). (http://dx.doi.org/10.1063/1.2696204)
• 6a. T. Kozawa, Y. Mizutani, K. Yokoyama, S. Okuda, Y. Yoshida, S. Tagawa. Nucl. Instrum. Methods A 429, 471 (1999). (http://dx.doi.org/10.1016/S0168-9002(99)00147-3)
• 6b. T. Kozawa, Y. Mizutani, M. Miki, T. Yamamoto, S. Suemine, Y. Yoshida, S. Tagawa. Nucl. Instrum. Methods A 440, 251 (2000). (http://dx.doi.org/10.1016/S0168-9002(99)00997-3)
• 7. A. Saeki, T. Kozawa, S. Kashiwagi, K. Okamoto, G. Isoyama, Y. Yoshida, S. Tagawa. Nucl. Instrum. Methods A 546, 627 (2005). (http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2005.03.123)
• 8a. A. Saeki, T. Kozawa, S. Tagawa. Nucl. Instrum. Methods A 556, 391 (2006). (http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2005.10.068)
• 8b. A. Saeki, T. Kozawa, K. Okamoto, S. Tagawa. Jpn. J. Appl. Phys. 46, 407 (2007). (http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.46.407)
• 9a. T. Kozawa, A. Saeki, Y. Yoshida, S. Tagawa. Jpn. J. Appl. Phys. 41, 4208 (2002). (http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.41.4208)
• 9b. A. Saeki, T. Kozawa, Y. Yoshida, S. Tagawa. Jpn. J. Appl. Phys. 41, 4213 (2002). (http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.41.4213)
• 10. Y. Yoshida, Y. Mizutani, T. Kozawa, A. Saeki, S. Seki, S. Tagawa, K. Ushida. Radiat. Phys. Chem. 60, 313 (2001). (http://dx.doi.org/10.1016/S0969-806X(00)00368-6)
• 11a. J. K. Thomas, K. Johnson, T. Klipper, R. Lowers. J. Chem. Phys. 48, 1608 (1968). (http://dx.doi.org/10.1063/1.1668883)
• 11b. M. C. Sauer, C. D. Jonah. J. Phys. Chem. 84, 2539 (1980). (http://dx.doi.org/10.1021/j100457a011)
• 11c. C. A. M. van den Ende, L. Nyikos, J. M. Warman, A. Hummel. Radiat. Phys. Chem. 15, 273 (1980).
• 11d. C. D. Jonah. Radiat. Phys. Chem. 21, 53 (1983).
• 11e. S. Tagawa, M. Washio, H. Kobayashi, Y. Katsumura, Y. Tabata. Radiat. Phys. Chem. 21, 45 (1983).
• 11f. S. Tagawa, N. Hayashi, Y. Yoshida, M. Washio, Y. Tabata. Radiat. Phys. Chem. 34, 503 (1989).
• 11g. A. D. Trifunac, M. C. Sauer, C. D. Jonah. Chem. Phys. Lett. 113, 316 (1985). (http://dx.doi.org/10.1016/0009-2614(85)80269-4)
• 11h. B. C. Le Motais, C. D. Jonah. Radiat. Phys. Chem. 33, 505 (1989).
• 11i. Y. Yoshida, S. Tagawa, M. Washio, H. Kobayashi, Y. Tabata. Radiat. Phys. Chem. 34, 493 (1989).
• 11j. Y. Yoshida, T. Ueda, T. Kobayashi, H. Shibata, S. Tagawa. Nucl. Instrum. Methods A 327, 41 (1993). (http://dx.doi.org/10.1016/0168-9002(93)91405-C)
• 11k. Y. Yoshida, S. Tagawa, H. Kobayashi, Y. Tabata. Radiat. Phys. Chem. 30, 83 (1987).
• 12a. K. M. Hong, J. Noolandi. J. Chem. Phys. 68, 5163 (1978). (http://dx.doi.org/10.1063/1.435636)
• 12b. K. M. Hong, J. Noolandi. J. Chem. Phys. 69, 5026 (1978). (http://dx.doi.org/10.1063/1.436493)
• 12c. P. P. Infelta, S. J. Rzad. J. Chem. Phys. 58, 3775 (1973). (http://dx.doi.org/10.1063/1.1679730)
• 12d. H. A. Schwarz. J. Chem. Phys. 55, 3647 (1971). (http://dx.doi.org/10.1063/1.1676642)
• 12e. J. L. Magee. J. Chem. Phys. 56, 3061 (1972). (http://dx.doi.org/10.1063/1.1677641)
• 12f. A. L. Nichols, D. Chandler. J. Chem. Phys. 87, 6671 (1987). (http://dx.doi.org/10.1063/1.453403)
• 12g. M. Tachiya. Radiat. Phys. Chem. 30, 75 (1987).
• 12h. W. M. Bartczak, A. Hummel. J. Chem. Phys. 87, 5222 (1987). (http://dx.doi.org/10.1063/1.453690)
• 12i. M. Wojcik, W. M. Bartczak, A. Hummel. J. Chem. Phys. 97, 3688 (1992). (http://dx.doi.org/10.1063/1.463937)
• 13. K. Okamoto, A. Saeki, T. Kozawa, Yoichi Yoshida, S. Tagawa. Chem. Lett. 32, 834 (2003). (http://dx.doi.org/10.1246/cl.2003.834)
• 14. A. Saeki, T. Kozawa, Y. Yoshida, S. Tagawa. J. Phys. Chem. A 108, 1475 (2004). (http://dx.doi.org/10.1021/jp036372m)
• 15a. I. M. Frank, S. I. Vavilov. Z. Phys. Chem. 69, 100 (1931).
• 15b. A. Weller. Prog. React. Kinet. 1, 187 (1961).
• 15c. H. Boaz, G. K. Rollefson. J. Am. Chem. Soc. 72, 3435 (1950). (http://dx.doi.org/10.1021/ja01164a032)
• 15d. G. Czapski, E. Peled. J. Phys. Chem. 77, 893 (1973). (http://dx.doi.org/10.1021/j100626a007)
• 16a. G. C. A. M. Mooiji, D. Frenkel, B. Smit. J. Phys.: Condens. Matter 4, L255 (1992). (http://dx.doi.org/10.1088/0953-8984/4/16/001)
• 16b. M. Lao, J. J. de Pablo, U. W. Suter. J. Chem. Phys. 97, 2817 (1992).
• 16c. J. J. de Pablo, M. Bonnin, J. M. Prausnitz. Fluid Phase Equilib. 73, 187 (1992). (http://dx.doi.org/10.1016/0378-3812(92)80010-7)
• 16d. R. C. Rizzo, W. L. Jorgensen. J. Am. Chem. Soc. 121, 4827 (1999). (http://dx.doi.org/10.1021/ja984106u)
• 17a. E. J. Hart, J. W. Boag. J. Am. Chem. Soc. 84, 4090 (1962). (http://dx.doi.org/10.1021/ja00880a025)
• 17b. R. K. Wolff, M. J. Bronskill, J. W. Hunt. J. Chem. Phys. 53, 4211 (1970). (http://dx.doi.org/10.1063/1.1673923)
• 17c. K. Y. Lam, J. W. Hunt. Int. J. Radiat. Phys. Chem. 7, 317 (1975). (http://dx.doi.org/10.1016/0020-7055(75)90072-8)
• 17d. C. D. Jonah, J. R. Miller, M. S. Matheson. J. Phys. Chem. 81, 1618 (1977). (http://dx.doi.org/10.1021/j100532a003)
• 17e. Y. Gauduel, S. Pommeret, N. Yamada, A. Migus, A. Antonetti. J. Am. Chem. Soc. 111, 4974 (1989). (http://dx.doi.org/10.1021/ja00195a062)
• 17f. D. M. Bartels, A. R. Cook, M. Mudaliar, C. D. Jonah. J. Phys. Chem. A 104, 1686 (2000). (http://dx.doi.org/10.1021/jp992723e)
• 17g. Y. Muroya, M. Lin, G. Wu, H. Iijima, K. Yoshii, T. Ueda, H. Kudo, Y. Katsumura. Radiat. Phys. Chem. 72, 169 (2005). (http://dx.doi.org/10.1016/j.radphyschem.2004.09.011)
• 17h. R. Lian, R. A. Crowell, I. A. Shkrob. J. Phys. Chem. A 109, 1510 (2005). (http://dx.doi.org/10.1021/jp045657b)
• 18a. S. Arai, M. C. Sauer. J. Chem. Phys. 44, 2297 (1966). (http://dx.doi.org/10.1063/1.1727037)
• 18b. M. J. Bronskill, R. K. Wolff, J. W. Hunt. J. Chem. Phys. 53, 4201 (1970). (http://dx.doi.org/10.1063/1.1673922)
• 18c. D. Ražem, W. H. Hamill. J. Chem. Phys. 82, 1460 (1978).
• 18d. G. A. Kenney-Wallace, C. D. Jonah. J. Phys. Chem. 86, 2572 (1982). (http://dx.doi.org/10.1021/j100211a007)
• 18e. C. Pepin, T. Goulet, D. Houde, J.-P. Jay-Gerin. J. Phys. Chem. 98, 7009 (1994). (http://dx.doi.org/10.1021/j100079a020)
• 19a. B. Brockrath, L. M. Dorfman. J. Phys. Chem. 77, 1002 (1973). (http://dx.doi.org/10.1021/j100627a007)
• 19b. F. Y. Jou, L. M. Dorfman. J. Chem. Phys. 58, 4715 (1973). (http://dx.doi.org/10.1063/1.1679050)
• 19c. A. A. H. Kadhum, G. A. Salmon. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1 82, 2521 (1986). (http://dx.doi.org/10.1039/f19868202521)
• 19d. J. A. Dalaire, M. O. Delcourt, J. Belloni. J. Phys. Chem. 84, 1186 (1980). (http://dx.doi.org/10.1021/j100447a024)
• 19e. I. B. Martini, E. R. Barthel, B. J. Schwartz. J. Chem. Phys. 113, 11245 (2000). (http://dx.doi.org/10.1063/1.1328071)
• 19f. F. Renou, P. Pernot, J. Bonin, I. Lampre, M. Mostafavi. J. Phys. Chem. A 107, 6587 (2003). (http://dx.doi.org/10.1021/jp034290s)
• 20a. J. F. Wishart, P. Neta. J. Phys. Chem. B 107, 7261 (2003). (http://dx.doi.org/10.1021/jp027792z)
• 20b. J. Grodkowski, P. Neta, J. F. Wishart. J. Phys. Chem. A 107, 9794 (2003). (http://dx.doi.org/10.1021/jp035265p)
• 21a. K. Natsuda, T. Kozawa, A. Saeki, S. Tagawa, T. Kai, T. Shimokawa. Jpn. J. Appl. Phys. 47, 4932 (2008). (http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.47.4932)
• 21b. A. Nakano, T. Kozawa, S. Tagawa, T. Szreder, J. F. Wishart, T. Kai, T. Shimokawa. Jpn. J. Appl. Phys. 45, L197 (2006). (http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.45.L197)
• 22. A. Saeki, T. Kozawa, Y. Ohnishi, S. Tagawa. J. Phys. Chem. A 111, 1229 (2007). (http://dx.doi.org/10.1021/jp067520m)
• 23a. H. Ito, C. G. Willson. Polym. Eng. Sci. 23, 1012 (1983). (http://dx.doi.org/10.1002/pen.760231807)
• 23b. H. Ito. Adv. Polym. Sci. 172, 37 (2005).
• 24a. G. M. Schmid, M. D. Smith, C. A. Mack, V. K. Singh, S. D. Burns, C. G. Willson. Proc. SPIE 4345, 1037 (2001). (http://dx.doi.org/10.1117/12.436829)
• 24b. M. Yoshizawa, S. Moriya. J. Vac. Sci. Technol. B 20, 1342 (2002). (http://dx.doi.org/10.1116/1.1490392)
• 24c. W. Hinsberg, F. Houle, M. Sanchez, J. Hoffnagle, G. Wallraff, D. Medeiros, G. Gallatin, J. Cobb. Proc. SPIE 5039, 1 (2003). (http://dx.doi.org/10.1117/12.487739)
• 24d. H. Cao, W. Yueh, B. Rice, J. Roberts, T. Bacuita, M. Chandhok. Proc. SPIE 5376, 757 (2004). (http://dx.doi.org/10.1117/12.536041)
• 25a. S. Mori, T. Morisawa, N. Matsuzawa, Y. Kaimoto, M. Endo, T. Matsuo, K. Kuhara, M. Sasago. J. Vac. Sci. Technol. B 16, 3739 (1998). (http://dx.doi.org/10.1116/1.590409)
• 25b. T. Yamaguchi, K. Yamazaki, H. Namatsu. J. Vac. Sci. Technol. B 22, 2604 (2004). (http://dx.doi.org/10.1116/1.1805546)
• 25c. T. Yoshimura, H. Shiraishi, J. Yamamoto, S. Okazaki. Appl. Phys. Lett. 63, 764 (1993). (http://dx.doi.org/10.1063/1.109901)
• 25d. S. Yasin, D. G. Hasko, M. N. Khalid, D. J. Weaver, H. Ahmed. J. Vac. Sci. Technol. B 22, 574 (2004). (http://dx.doi.org/10.1116/1.1651106)
• 25e. G. P. Patsis, E. Gogolides, K. Van Werden. Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 44, 6341 (2005). (http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.44.6341)
• 25f. G. W. Reynolds, J. W. Taylor. J. Vac. Sci. Technol. B 17, 334 (1999). (http://dx.doi.org/10.1116/1.590560)
• 25g. T. Yamaguchi, H. Namatsu. J. Vac. Sci. Technol. B 22, 1037 (2004). (http://dx.doi.org/10.1116/1.1736647)
• 25h. M. Kotera, K. Yagura, H. Niu. J. Vac. Sci. Technol. B 23, 2755 (2005). (http://dx.doi.org/10.1116/1.2130357)
• 25i. P. Kruit, S. Steenbrink. J. Vac. Sci. Technol. B 23, 3033 (2005). (http://dx.doi.org/10.1116/1.2127941)
• 26a. T. Kozawa, Y. Yoshida, M. Uesaka, S. Tagawa. Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 31, 4301 (1992). (http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.31.4301)
• 26b. S. Tagawa, S. Nagahara, T. Iwamoto, M. Wakita, T. Kozawa, Y. Yamamoto, D. Werst, A. D. Trifunac. Proc. SPIE 3999, 204 (2000). (http://dx.doi.org/10.1117/12.388304)
• 26c. T. Kozawa, S. Nagahara, Y. Yoshida, S. Tagawa, T. Watanabe, Y. Yamashita. J. Vac. Sci. Technol. B 15, 2582 (1997). (http://dx.doi.org/10.1116/1.589689)
• 26d. T. Kozawa, A. Saeki, S. Tagawa. J. Vac. Sci. Technol. B 22, 3489 (2004). (http://dx.doi.org/10.1116/1.1823435)
• 27a. A. Saeki, T. Kozawa, S. Tagawa, H. B Cao. Nanotechnology 17, 1543 (2006). (http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/17/6/001)
• 27b. A. Saeki, T. Kozawa, S. Tagawa, H. B. Cao. J. Vac. Sci. Technol. B 24, 3066 (2006). (http://dx.doi.org/10.1116/1.2393250)
• 27c. A. Saeki, T. Kozawa, S. Tagawa, H. B. Cao, H. Deng, M. J. Leeson. J. Micro/Nanolith. MEMS MOEMS 6, 043004-1 (2007). (http://dx.doi.org/10.1117/1.2792178)
• 28a. A. Saeki, T. Kozawa, S. Tagawa, H. B. Cao, H. Deng, M. J. Leeson. Nanotechnology 19, 015705 (2008). (http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/19/01/015705)
• 28b. A. Saeki, T. Kozawa, S. Tagawa, H. B. Cao, H. Deng, M. J. Leeson. J. Appl. Phys. 104, 024303-1 (2008). (http://dx.doi.org/10.1063/1.2952046)
• 29a. H. Shimamori. “Microwave conductivity techniques”, in Pulse Radiolysis, Y. Tabata (Ed.), CRC Press, Boca Raton (1991).
• 29b. J. M. Warman, M. P. de Haas. “Time-resolved conductivity techniques, DC to microwave”, in Pulse Radiolysis, Y. Tabata (Ed.) CRC Press, Boca Raton (1991).
• 29c. H. Shimamori. “Microwave dielectric absorption studies of photochemical transients”, in Progress in Photochemistry and Photophysics, Vol. VI, J. F. Rabek (Ed.), CRC Press, Boca Raton (1992).
• 30a. M. A. Biondi, S. C. Brown. Phys. Rev. 75, 1700 (1949). (http://dx.doi.org/10.1103/PhysRev.75.1700)
• 30b. M. A. Biondi, S. C. Brown. Phys. Rev. 76, 1697 (1949). (http://dx.doi.org/10.1103/PhysRev.76.1697)
• 30c. M. A. Biondi. Rev. Sci. Instrum. 22, 500 (1951). (http://dx.doi.org/10.1063/1.1745980)
• 31a. R. W. Fessenden, J. M. Warman. Adv. Chem. Ser. 82, 222 (1968). (http://dx.doi.org/10.1021/ba-1968-0082.ch014)
• 31b. J. M. Warman, R. W. Fessenden, G. Bakale. J. Chem. Phys. 57, 2702 (1972). (http://dx.doi.org/10.1063/1.1678654)
• 32. H. Shimamori, Y. Hatano. Chem. Phys. 21, 187 (1977). (http://dx.doi.org/10.1016/0301-0104(77)80013-X)
• 33a. R. W. Fessenden, P. M. Carton, H. Paul, H. Shimamori. J. Phys. Chem. 83, 1677 (1979). (http://dx.doi.org/10.1021/j100475a019)
• 33b. R. W. Fessenden, P. M. Carton, H. Shimamori, J. C. Scaiano. J. Phys. Chem. 86, 3803 (1982). (http://dx.doi.org/10.1021/j100216a020)
• 34a. E. Suzuki, Y. Hatano. J. Chem. Phys. 84, 4915 (1986). (http://dx.doi.org/10.1063/1.449979)
• 34b. E. Suzuki, Y. Hatano. J. Chem. Phys. 85, 5341 (1986). (http://dx.doi.org/10.1063/1.451678)
• 35. H. Shimamori, T. Sunagawa. J. Chem. Phys. 106, 4481 (1997). (http://dx.doi.org/10.1063/1.473492)
• 36. R. W. Fessenden, A. Hitachi. J. Phys. Chem. 91, 3456 (1987). (http://dx.doi.org/10.1021/j100296a070)
• 37a. M. P. de Hass, J. M. Warman, P. P. Infelta, A. Hummel. Chem. Phys. Lett. 31, 382 (1975). (http://dx.doi.org/10.1016/0009-2614(75)85045-7)
• 37b. J. M. Warman, M. P. de Hass, M. Grätzel, P. P. Infelta. Nature 310, 306 (1984). (http://dx.doi.org/10.1038/310306a0)
• 37c. R. J. O. M. Hoofman, M. P. de Hass, L. D. A. Siebbeles, J. M. Warman. Nature 392, 54 (1998).
• 37d. J. M. Warman, G. H. Gelinck, M. P. de Haas. J. Phys.: Condens. Matter 14, 9935 (2002). (http://dx.doi.org/10.1088/0953-8984/14/42/308)
• 38a. A. M. van de Craats, J. M. Warman, M. P. de Haas, D. Adam, J. Simmerer, D. Haarer, P. Schuhmacher. Adv. Mater. 8, 823 (1996). (http://dx.doi.org/10.1002/adma.19960081012)
• 38b. J. J. Piet, P. N. Taylor, H. L. Anderson, A. Osuka, J. M. Warman. J. Am. Chem. Soc. 122, 1749 (2000). (http://dx.doi.org/10.1021/ja993241j)
• 38c. B. Wegewijis, J. Piris, G. Dicker, T. J. Savenije, M. P. de Haas, J. M. Warman. Synth. Met. 121, 1357 (2001). (http://dx.doi.org/10.1016/S0379-6779(00)00808-0)
• 38d. J.-W. van der Horst, P. A. Bobbert, P. H. L. de Jong, M. A. J. Michels, L. D. A. Siebbeles, J. M. Warman, G. H. Gelinck, G. Brocks. Chem. Phys. Lett. 334, 303 (2001). (http://dx.doi.org/10.1016/S0009-2614(00)01476-7)
• 38e. A. M. van de Craats, J. M. Warman. Adv. Mater. 13, 130 (2001).
• 38f. F. C. Grozema, L. D. A. Siebbeles, J. M. Warman, S. Seki, S. Tagawa, U. Scherf. Adv. Mater. 14, 228 (2002). (http://dx.doi.org/10.1002/1521-4095(20020205)14:3<228::AID-ADMA228>3.0.CO;2-3)
• 38g. F. C. Grozema, R. J. O. M. Hoofman, L. P. Candeias, M. P. de Hass, J. M. Warman, L. D. A. Siebbeles. J. Phys. Chem. A 107, 5976 (2003). (http://dx.doi.org/10.1021/jp022379c)
• 38h. G. Dicker, M. P. de Haas, L. D. A. Siebbeles, J. M. Warman. Phys. Rev. B 70, 045203 (2004). (http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.70.045203)
• 38i. P. Prins, F. C. Grozema, J. M. Schins, S. Patil, U. Scherf, L. D. A. Siebbeles. Phys. Rev. Lett. 96, 146601 (2006). (http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.96.146601)
• 38j. A. C. Pieter, J. Sweelssen, M. M. Koetse, T. J. Savenije, L. D. A. Siebbeles. J. Phys. Chem. C 111, 4452 (2007).
• 39a. A. Saeki, S. Seki, T. Sunagawa, K. Ushida, S. Tagawa. Philos. Mag. 86, 1261 (2006). (http://dx.doi.org/10.1080/14786430500380159)
• 39b. A. Saeki, S. Seki, Y. Koizumi, S. Tagawa. J. Photochem. Photobiol. A 186, 158 (2007). (http://dx.doi.org/10.1016/j.jphotochem.2006.08.008)
• 40a. W.-S. Li, Y. Yamamoto, T. Fukushima, A. Saeki, S. Seki, S. Tagawa, H. Masunaga, S. Sasaki, M. Takata, T. Aida. J. Am. Chem. Soc. 130, 8886 (2008). (http://dx.doi.org/10.1021/ja802757w)
• 40b. T. Sakurai, K. Shi, H. Sato, K. Tashiro, A. Osuka, A. Saeki, S. Seki, S. Tagawa, S. Sasaki, H. Masunaga, K. Osaka, M. Takata, T. Aida. J. Am. Chem. Soc. 130, 13812 (2008). (http://dx.doi.org/10.1021/ja8030714)
• 41a. Y. Yamamoto, T. Fukushima, Y. Suna, N. Ishii, A. Saeki, S. Seki, S. Tagawa, M. Taniguchi, T. Kawai, T. Aida. Science 314, 1761 (2006). (http://dx.doi.org/10.1126/science.1134441)
• 41b. Y. Yamamoto, T. Fukushima, W. Jin, A. Kosaka, T. Hara, T. Nakamura, A. Saeki, S. Seki, S. Tagawa, T. Aida. Adv. Mater. 18, 1297 (2006). (http://dx.doi.org/10.1002/adma.200502116)
• 41c. Y. Yamamoto, T. Fukushima, A. Saeki, S. Seki, S. Tagawa, N. Ishii, T. Aida. J. Am. Chem. Soc. 129, 9276 (2007). (http://dx.doi.org/10.1021/ja073577q)
• 42a. A. Acharya, S. Seki, A. Saeki, Y. Koizumi, S. Tagawa. Chem. Phys. Lett. 404, 356 (2005). (http://dx.doi.org/10.1016/j.cplett.2005.02.003)
• 42b. A. Acharya, S. Seki, Y. Koizumi, A. Saeki, S. Tagawa. J. Phys. Chem. B 109, 20174 (2005). (http://dx.doi.org/10.1021/jp053300h)
• 42c. A. Acharya, S. Seki, A. Saeki, S. Tagawa. Synth. Met. 156, 293 (2006). (http://dx.doi.org/10.1016/j.synthmet.2005.12.004)
• 43a. A. Saeki, S. Seki, Y. Koizumi, T. Sunagawa, K. Ushida, S. Tagawa. J. Phys. Chem. B 109, 10015 (2005). (http://dx.doi.org/10.1021/jp0442145)
• 43b. Y. Umemoto, Y. Ie, A. Saeki, S. Seki, S. Tagawa, Y. Aso. Org. Lett. 10, 1095 (2008). (http://dx.doi.org/10.1021/ol703016g)
• 43c. A. Saeki, S. Ohsaki, Y. Koizumi, S. Seki, S. Tagawa. J. Photopolym. Sci. Technol. 21, 559 (2008). (http://dx.doi.org/10.2494/photopolymer.21.559)
• 43d. A. Saeki, S. Ohsaki, S. Seki, S. Tagawa. J. Phys. Chem. C 112, 16643 (2008). (http://dx.doi.org/10.1021/jp8039252)
• 44. R. Yamagami, K. Kobayashi, A. Saeki, S. Seki, S. Tagawa. J. Am. Chem. Soc. 128, 2212 (2006). (http://dx.doi.org/10.1021/ja058057e)
• 45a. A. Saeki, S. Seki, T. Takenobu, Y. Iwasa, S. Tagawa. Adv. Mater. 20, 920 (2008). (http://dx.doi.org/10.1002/adma.200702463)
• 45b. I. Hisaki, Y. Sakamoto, H. Shigemitsu, N. Tohnai, M. Miyata, S. Seki, A. Saeki, S. Tagawa. Chem. Eur. J. 14, 4178 (2008). (http://dx.doi.org/10.1002/chem.200800228)
• 45c. H. Imahori, M. Ueda, S. Kang, H. Hayashi, S. Hayashi, H. Kaji, S. Seki, A. Saeki, S. Tagawa, T. Umeyama, Y. Matano, K. Yoshida, S. Isoda, M. Shiro, N. V. Tkachenko, H. Lemmetyinen. Chem. Eur. J. 13, 10182 (2007). (http://dx.doi.org/10.1002/chem.200700446)
• 45d. A. Saeki, S. Seki, S. Tagawa. J. Appl. Phys. 100, 023703 (2006). (http://dx.doi.org/10.1063/1.2214638)
• 46. K. Nagashima, T. Yanagida, H. Tanaka, S. Seki, A. Saeki, S. Tagawa, T. Kawai. J. Am. Chem. Soc. 130, 5378 (2008). (http://dx.doi.org/10.1021/ja800367a)
• 47a. S. Seki, A. Acharya, Y. Koizumi, A. Saeki, S. Tagawa, K. Mochida. Chem. Lett. 34, 1690 (2005). (http://dx.doi.org/10.1246/cl.2005.1690)
• 47b. S. Seki, A. Saeki, A. Acharya, Y. Koizumi, S. Tagawa, K. Mochida. Radiat. Phys. Chem. 77, 1328 (2008). (http://dx.doi.org/10.1016/j.radphyschem.2008.05.027)